技術文章
Technical articles在食品工業(yè)中,顏色的測量對于產品的質量控制至關重要。尤其在番茄果醬的生產過程中,顏色的均勻性和一致性直接影響到產品的質量和消費者對產品的接受度。為了確保產品的顏色品質,我們采用色差儀來測量番茄果醬的顏色。在番茄果醬的顏色測量中,我們主要關注L*、a*、b*這三個顏色參數(shù)。L*代表亮度,a*代表紅綠色度,b*代表黃藍色度。3nh臺式分光測色儀能夠快速準確地測量這些參數(shù),幫助我們了解番茄果醬的顏色狀況。01我們使用TS8520色差儀對生產線上不同批次和不同生產時間的番茄果醬進行顏...
雖然耐壓實驗和漏電流實驗都能夠用來測驗被測目標的絕緣強度,但其測驗過程和成果有一些關鍵的差異。耐壓實驗是在被測目標的一切載流部件的絕緣體系短路后,在高壓下進行的,漏電流(觸摸電流)實驗是利用實驗設備模仿人體阻抗,在電的條件下進行的。雖然這兩種測驗不同,但它們在確保產品安全方面非常有用。耐壓測驗是100%慣例測驗(RoutineTest),漏電流測驗一般被認為是類型測驗。隨著當今低壓(LVD)指南的廣泛采用,耐壓測驗和漏電流測驗將成為規(guī)范生產線測驗,并將添加更多測驗,如絕緣阻抗...
爬電軌道測驗儀是依據GB4207、IEC60112等標準規(guī)劃制造的專用測驗儀器。適用于電工電子產品、家用電器固體絕緣材料及其制品在濕潤條件下的爬電間隔指數(shù)和爬電間隔指數(shù)的測驗。它簡單、準確、牢靠、實用。用于照明設備、低壓電器、家用電器、機床電器、電機、電動工具、電子儀器、電器外表和信息技術設備的研究、出產和質檢部分,也適用于絕緣材料、工程塑料、電連接器和附件行業(yè)的模擬試驗。試驗原理:漏電追蹤試驗是在固體絕緣材料外表施加一定尺度(2mm×5mm)的鉑電極和固定高度(35mm)固...
在眾多工業(yè)和科研應用中,對電流或電壓進行非接觸式精確測量是一個重要的需求。國產光隔離探頭作為一種高性能的測量工具,它通過光電技術實現(xiàn)對電氣參數(shù)的隔離檢測,從而為用戶提供了一個安全、準確的測量方案。光隔離探頭的工作原理基于光電轉換技術。它通常由發(fā)光二極管(LED)和光電探測器組成。當電流或電壓通過被測電路時,會產生相應的光信號。這個光信號隨后被光電探測器接收并轉換為電信號,經過處理后得到所需的測量結果。由于整個測量過程中,探頭與被測電路之間沒有直接的電氣連接,因此可以實現(xiàn)良好的...
在未來,可編程直流電源的發(fā)展趨勢將聚焦于多個關鍵方面,以滿足不斷變化的電子測試和工業(yè)應用需求。更高精度:隨著測試需求的日益嚴格,可編程直流電源將不斷追求更高的輸出電壓和電流精度。通過采用更先進的控制算法和元器件選型,電源能夠提供更穩(wěn)定、更準確的電源輸出,滿足更精細的測試要求。更強功能:可編程直流電源將集成更多先進的控制技術和功能,如波形記憶、序列模式輸出、自動校準等。這些功能將使得電源能夠更靈活地適應各種復雜的測試場景,提高測試效率。更易用性:為了降低用戶的學習成本和使用難度...
鋰電池的內阻是電池性能評估的重要指標之一,已廣泛應用于電動汽車系統(tǒng)、儲能系統(tǒng)、電子設備和新能源產業(yè)等多領域,所以對于鋰電池性能參數(shù)的快速測試也有了大量需求。內阻影響著鋰電池功率性能和放電效率,隨著存儲時間的增加,電池不斷老化,其內阻不斷增大。不同類型的鋰電池內阻變化程度不同,其初始的內阻大小主要受電池的結構設計、原材料性能和制程工藝的影響。通過測試內阻,可以全面評估電池在高功率應用下的性能表現(xiàn),是衡量功率性能和壽命的關鍵參數(shù)。因此,內阻的合理控制和優(yōu)化是提高電池品質、性能和可...
01背景高校科研、實驗室是推動科學和技術的前沿,解決基本科學問題,培養(yǎng)研究生和學術人才。注重基礎研究和理論驗證,實驗設計往往復雜且創(chuàng)新性強,強調實驗的可重復性和理論的嚴謹性。而準確的測量數(shù)據對于驗證理論模型、進行精確的能效分析和實驗數(shù)據的可靠性至關重要。02應用需求1.準確的功率測量對于驗證理論模型、進行精確的能效分析和實驗數(shù)據的可靠性至關重要。2.高校科研涉及各種不同規(guī)模的實驗,從微小的電子元件到大型電力設備,都需要適用的測量范圍和分辨率。3.許多實驗需要同時測量多個電壓和...
雙通道綜合四象限電源和測量功能;使用單臺儀器即可輕松準確地測量電流和電壓,而無需手動更改任何連接。量程:±200V、±3A(直流)、±10A(脈沖);單臺SMU產品即可同時滿足高電壓和大電流測量需求,從而推動測量儀器的標準化,并簡化資產管理和支持工作。最小測量分辨率可達100fA/100nV;可以使用低成本的臺式SMU進行低電平測量,而以前則需要使用昂貴的半導體器件分析儀。高速測量;最高可支持1M的ADC采樣率,NPLC和采樣率可選設...